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          熱電阻溫度計用途

          簡要描述:

          熱電阻溫度計用途
          適用於所有標準應用場合,帶固定不可更換鎧裝 芯子
          供應熱電阻溫度計

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          熱電阻溫度計用途

          iTHERM TM401

          熱電阻(RTD)溫度計,適用於衛生和無菌應用場合

          公制型儀表,採用通用技術

          適用於所有標準應用場合,帶固定不可更換鎧裝 芯子

          應用

          • 專門設計用於食品&飲料和生命科學行業中的衛生和無菌應用場合

          • 測量範圍爲–50…+200 °C (–58…+392 °F)

          • Z大壓力爲 50 bar (725 psi)

          • Z高防護等爲 IP69K

          • 可以在非防爆區域中使用

          熱電阻溫度計用途

          模塊化變送器

          相比於不經過溫度變送器而直接接線的測量方法,Endress+Hauser 能爲用戶提供 高測量精度、高測量可靠性的溫度變送器。根據實際工況條件,選擇下列信號輸出 和通信方式:

          4…20 mA HART®模擬量輸出

          優勢

          • 高性價比和發貨迅速

          • 用戶友好且可靠的從產品選型至維護過程

          • 認證:衛生型標準,符合 3-A®認證、EHEDG 測試、ASME BPE 認證、FDA 認證、TSE 適用性認證

          • 提供多種過程連接

          測量原理

          熱電阻(RTD)

          熱電阻採用符合 IEC 60751 標準的 Pt100 溫度傳感器。溫度傳感器爲溫度敏感性鉑熱電阻,阻抗 爲 100 Ω (0 °C (32 °F)時),溫度係數爲 α = 0.003851 °C-1。

          通常,有兩種不同類型的鉑熱電阻:

          • 繞線式(WW):由兩根細的高純度鉑絲在陶瓷載體內繞制而成,並通過陶瓷保護層在載體頂部 和底部對鉑絲進行密封處理。此類熱電阻具有高可重現性,過程溫度高達 600 °C (1112 °F)時, 仍能保證良好的阻抗-溫度關係的長期穩定性。繞線式(WW)熱電阻的體積較大,抗振性較差。

          • 薄膜式鉑電阻溫度計(TF):在真空狀態下,將厚度約爲 1 μm 的超高純度鉑層汽化固定在陶瓷基 板上,光刻製作而成。由此構成的鉑導體形成測量阻抗。附加覆蓋層和鈍化層可靠保護薄鉑 層,防止高溫條件下出現氧化和污染。

          薄膜式(TF)熱電阻與繞線式(WW)熱電阻相比,突出優點爲較小的體積和較好的抗振性。高溫條件 下,薄膜式(TF)熱電阻的阻抗-溫度關係偏差較小,符合 IEC 60751 標準。因此,薄膜式(TF)熱電阻的溫度測量誤差可達溫度等 A,符合 IEC 60751 標準(Z高溫度約爲 300 °C (572 °F))。所以, 薄膜式(TF)熱電阻通常僅在溫度低於 400 °C (752 °F)的條件下測量。

           

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